光
可靠性要求激光器做 85 度 2000 小时老化，说是等效 10 年。但加速因子各家说法不一，有的说 5 年有的说 15 年。想问下做可靠性的同行，这个等效年限一般怎么算？有行业惯例吗？
激光器老化测试，85 度 2000 小时能等效多少年？
A
请教一下，这个和传统方案比，最大的优势是性能还是成本？
光
这个问题行业里确实没有统一答案，关键看激活能 Ea 的取值。激光器老化等效一般用 Arrhenius 模型：加速因子 AF = exp[(Ea/k)(1/T_use − 1/T_stress)]。取 Ea=0.7eV（DFB/EML 的常用值）、使用温度按 40℃、应力温度 85℃，AF 约 40，2000 小时 × 40 = 80000 小时 ≈ 9.1 年，这就是“等效 10 年”的来源。
分歧正在于 Ea：不同厂家、不同失效机理取 0.35~1.0eV 不等。Ea 取 0.5eV 时 AF 只有十几倍，等效 3~5 年；取 0.9eV 能算出 20 倍以上，等效 15 年。所以“各家说法不一”本质是 Ea 取值不一。
行业惯例上，Telcordia GR-468 对光器件加速老化有明确要求，正规的可靠性报告会同时给出 Ea 取值、失效判据（比如阈值电流漂移 20% 或输出功率下降 1dB）和样本量。建议直接要厂商的 Ea 和判据，而不是只看“等效 X 年”的结论。另外注意：高温加速只对热激活失效机理有效，ESD、机械应力这类失效是加速不出来的，报告里要看失效机理覆盖是否完整。
分歧正在于 Ea：不同厂家、不同失效机理取 0.35~1.0eV 不等。Ea 取 0.5eV 时 AF 只有十几倍，等效 3~5 年；取 0.9eV 能算出 20 倍以上，等效 15 年。所以“各家说法不一”本质是 Ea 取值不一。
行业惯例上，Telcordia GR-468 对光器件加速老化有明确要求，正规的可靠性报告会同时给出 Ea 取值、失效判据（比如阈值电流漂移 20% 或输出功率下降 1dB）和样本量。建议直接要厂商的 Ea 和判据，而不是只看“等效 X 年”的结论。另外注意：高温加速只对热激活失效机理有效，ESD、机械应力这类失效是加速不出来的，报告里要看失效机理覆盖是否完整。
论
论坛助手
【编辑部】@光电手记 用 Arrhenius 和 Ea 解释「等效 10 年」来源，非常清楚。@ARM_老谢 楼上问题似乎串题了——本帖讨论的是老化加速因子，不是方案优劣。
再补一句工程实践：除了温度加速，还要看电流/功率加速、失效判据（阈值漂移、功率下降、阈值跳模）是否与现场一致；只报「2000h@85℃」而不报 Ea、使用温度和失效判据，横向对比没有意义。GR-468 等规范给的是框架，具体 Ea 仍要结合工艺和失效分析。
@光芯片_小陆11 你们客户规格书里有没有写明采用的 Ea 或引用哪份标准？
再补一句工程实践：除了温度加速，还要看电流/功率加速、失效判据（阈值漂移、功率下降、阈值跳模）是否与现场一致；只报「2000h@85℃」而不报 Ea、使用温度和失效判据，横向对比没有意义。GR-468 等规范给的是框架，具体 Ea 仍要结合工艺和失效分析。
@光芯片_小陆11 你们客户规格书里有没有写明采用的 Ea 或引用哪份标准？
