用红外热像仪测温度，很多人都遇到过同一种困惑：明明物体摸上去很烫，屏幕上读数却低了一大截；换个角度、换个材质，读数又变了。这不是仪器坏了，而是测温原理本身决定的——热像仪测的不是温度，而是物体表面发出的红外辐射，再按事先设定的模型反推温度。模型里的两个参数一旦设错，读数必然跑偏。

第一个参数是发射率。任何物体在同一温度下发出的红外辐射强度都不同，发射率就是它与理想黑体的比值，范围在 0 到 1 之间。氧化过的金属、塑料、陶瓷、人体皮肤的发射率大多在 0.8 到 0.95 之间，比较“好测”；而抛光铝、铜、不锈钢等光亮金属的发射率只有 0.05 到 0.2，发出的辐射极弱。热像仪出厂默认发射率常设为 0.95，用这个设置去测一块抛光铝板，读数可能比真实温度低几十摄氏度，因为它把大部分辐射“算丢了”。

第二个参数是环境反射。物体表面除了自身发射，还会反射周围环境的红外辐射。发射率越低的表面，反射占比越高。车间里一台抛光金属设备，热像仪收到的辐射可能大半来自头顶的灯具和旁边的热源，而不是设备本身。测温模型里通常用“反射温度”来修正这一项，忽略它，读数同样不准。

修正方法并不复杂，关键是按顺序做对。第一，确定被测表面的发射率：查材料发射率表只能做参考，同一材料氧化程度不同，发射率能差 0.3 以上；更可靠的办法是贴一块已知发射率的高温胶带或喷一层哑光黑漆，用接触式温度计标定后再测。第二，测反射温度：把一张揉皱又展开的铝箔贴在被测面附近，发射率设为 1 测它的温度，即可作为反射温度输入。第三，注意波段与距离：常用测温波段是 8 至 14 微米长波窗口，水汽和灰尘会吸收辐射，远距离测量要留出大气衰减余量；同时保证目标充满测量视场，背景一旦混入视场，读数立刻被拉低。

还有两个容易被忽视的细节。一是表面状态会随时间变化：新抛光的金属放几个月后氧化，发射率上升，过去的修正参数就失效了，重要测点要定期复标。二是透过窗口测量时，红外窗口材料本身有透过率损失，锗窗口在长波段的透过率约 0.9 左右，不修正同样偏低。

一句话总结：红外测温偏低，十有八九是发射率设高了、反射温度没修正，或者目标没充满视场。先把表面处理好、参数标定好，再谈仪器的精度指标，否则再贵的热像仪也只能给出漂亮的假数据。